日前，我校信息工程学院教师管强博士以第一作者身份在国际数学顶级学术期刊《Applied Mathematical Modelling》（中科院SCI期刊分区1区）发表《Reference Bayesian analysis of inverse Gaussian degradation process》和《Objective Bayesian analysis for competing risks model with Wiener degradation phenomena and catastrophic failures》2篇研究论文。

 该理论成果主要解决了小样本下高可靠性长寿命产品在短时间内进行有效可靠性评估数学问题，可以应用于军工领域（导弹储存寿命，飞机涂层寿命），电子产品领域（芯片寿命，电子管寿命），机械制造领域（机械磨损寿命），食品药品安全领域（食品保质期，药品保质期）等广泛领域。该研究工作依托数字福建工业能源大数据研究所，工业大数据分析及应用福建省高校重点实验室和物联网应用福建省高校工程研究中心，得到了国家自然科学基金资助。

 （科研处、信息工程学院/供稿）